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Rise-3002型颗粒图像仪介绍

点击次数:974  发布时间:2008-11-01

 

Rise-3002型颗粒图像分析仪将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和粒度测量的颗粒分析系统,由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将显微镜的颗粒图像拍摄下来传输给电脑,通过专用的颗粒图像处理分析软件对图像进行处理分析,具有直观、形象、准确和测试范围宽等特点。可以观察颗粒形貌,也可得到粒度分布等分析结果。
 
技术参数:
1、 测量范围:1~3000微米
2、 zui大光学放大倍数:1600倍
3、 zui大分辨率:0.1微米/像素
4、 准确性误差:< ±3%(国家标准物质)
5、 重复性偏差:< ±3%(国家标准物质)
6、 数据输出:周长分布、面积分布、长径分布、短径分布、周长相当径分布、面积相当径分布、Feret径分布、长短径比、中间径(D50)、有效粒径(D10)、限定粒径(D60)、D30、D97、个数长度平均径、个数面积平均径、个数体积平均径、长度面积平均径、长度体积平均径、面积体积平均径、不均匀系数、曲率系数。  
 
 
 
 
 
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