收藏了!激光粒度测量仪导论之性能特点篇
点击次数:1258 更新时间:2020-05-18
激光粒度仪测量粒度的原理是米氏散射理论。米氏散射理论用数学语言精确描述折射率为n、吸收率为m、粒径为d的球形颗粒,在波长为λ的激光照射下,散射光强度随散射角θ变化的空间分布函数,此函数也称为散射谱。根据米氏散射理论,大颗粒的前向散射光很强而后向散射很弱;小颗粒的前向散射光弱而后向散射光很强。
激光粒度测量仪正是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列测试这些散射谱来确定颗粒粒径的大小。对于特定颗粒,这种散射谱在空间具有稳定分布的特征,因此称此种原理的激光粒度仪又称为静态激光粒度仪。
激光粒度仪的动态范围是由仪器同时能测量的大散射角和小散射角决定的。从原理分析,如果只测量前向散射光,测量下限能达到0.3µm左右;如果光的探测角度范围扩展到后向,那么测量下限可达到0.1µm。
激光粒度仪的测量过程主要包括背景测量、投样和搅拌循环、散射光测量、数据反演计算以及报告显示等。整个过程大约需要1分钟左右。当然这里不包括前期的样品制备过程。对难分散样品,在投入仪器的分散槽之前,需用外置的高功率超声分散器进行预处理,这个过程从数秒到几分钟,视样品不同而异。不过难分散样品的预分散对任何仪器都是必须要做的。
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