当前位置:新闻资讯>一文带你详细了解粒径分析仪的两大主要测量技术 新闻中心

一文带你详细了解粒径分析仪的两大主要测量技术

点击次数:16次  发布时间:2021-09-13

    粒径分析仪是一种测量、呈现和报告特定粒子或者液滴群粒度分布的分析仪。粒度分析仪在个别以及方法特定边界条件下,按照特定的测量方法(例如:图像分析、激光背向散射或激光衍射)运行。由于微观晶体粒度较小,因此通常需要使用更加复杂的分析设备。常规粒度测量方法包括图像分析、激光背向散射、激光衍射或筛分分析法。所有粒度分析仪根据其特定的测量方法为同一个粒子提供不同值。粒度分析仪在工艺开发以及粒子系统质量控制方面起到重要作用,可建立起高效的工艺和取得高质量的最终产品。

    (1)聚焦光束反射测量技术:

    当过程中存在颗粒时,使用采用FBRM技术的探头式仪器,可实时进行粒径与粒数分析。获取关于颗粒粒径、粒数与形状的实时测量结果:

    ·无需取样或旁通回路,可直接在工艺中测量;

    ·研究颗粒的特定区间(细粒与粗粒);

    ·研究不透明或半透明浆体与乳液中的颗粒;

    ·直接观察工艺变化对颗粒产生的影响;

    ·可监测大多数工艺浓度条件下的0.5-1000μm颗粒。

    (2)颗粒录影显微镜技术:

    PVM在当前工艺条件下,通过高分辨率的录影显微镜,实时原位监测颗粒,气泡,以及液滴。

    粒径分析仪的注意事项:

    (1)探头插入角度最好是30°-60°,与颗粒流动方向一致,确保有代表性的颗粒经过探头窗口,消除盲区可能性,降低探头粘附可能性。

    (2)识别和避免窗口粘附,避免粘附的方法,确保最优的探头方向–流体冲刷探头窗口,在软件中始终选择“stuckparticlecorrection,拔出探头,清洗探头。

    (3)选择正确的平滑度,过度平滑,导致不能呈现原始数据的趋势。

    (4)选择好的弦长计算模型。
QQ在线客服
电话咨询
  • 0531-88164996 88164997
  • 15588824207