一文带你详细了解粒径分析仪的两大主要测量技术
点击次数：861次 更新时间：2021-09-13
粒径分析仪是一种测量、呈现和报告特定粒子或者液滴群粒度分布的分析仪。粒度分析仪在个别以及方法特定边界条件下，按照特定的测量方法（例如：图像分析、激光背向散射或激光衍射）运行。由于微观晶体粒度较小，因此通常需要使用更加复杂的分析设备。常规粒度测量方法包括图像分析、激光背向散射、激光衍射或筛分分析法。所有粒度分析仪根据其特定的测量方法为同一个粒子提供不同值。粒度分析仪在工艺开发以及粒子系统质量控制方面起到重要作用，可建立起高效的工艺和取得高质量的最终产品。
（1）聚焦光束反射测量技术：
当过程中存在颗粒时，使用采用FBRM技术的探头式仪器，可实时进行粒径与粒数分析。获取关于颗粒粒径、粒数与形状的实时测量结果：
·无需取样或旁通回路，可直接在工艺中测量；
·研究颗粒的特定区间（细粒与粗粒）；
·研究不透明或半透明浆体与乳液中的颗粒；
·直接观察工艺变化对颗粒产生的影响；
·可监测大多数工艺浓度条件下的0.5-1000μm颗粒。
（2）颗粒录影显微镜技术：
PVM在当前工艺条件下，通过高分辨率的录影显微镜，实时原位监测颗粒，气泡，以及液滴。
粒径分析仪的注意事项：
（1）探头插入角度最好是30°-60°，与颗粒流动方向一致，确保有代表性的颗粒经过探头窗口，消除盲区可能性，降低探头粘附可能性。
（2）识别和避免窗口粘附，避免粘附的方法，确保*的探头方向–流体冲刷探头窗口，在软件中始终选择“stuckparticlecorrection，拔出探头，清洗探头。
（3）选择正确的平滑度，过度平滑，导致不能呈现原始数据的趋势。
（4）选择好的弦长计算模型。